في هذا القسم، يناقش المؤلفون النتائج التجريبية الحديثة التي تشير إلى وجود جيوب فيرمي صغيرة في مرحلة الفجوة الزائفة لموصلات الحرارة الفائقة من النحاس، مع تسليط الضوء بشكل خاص على تأثير ياماجي الذي لوحظ في HgBa$_2$CuO$_{4+\delta}$. يستخدمون نموذج يانغ-رايس-تشانغ (YRZ)، الذي يصف بفعالية حالة الفجوة الزائفة ويتنبأ بوجود هذه الجيوب الصغيرة. يستخدم المؤلفون إطارًا ميكروسكوبيًا…