الأبحاث المرتبطة بالكلمة المفتاحية: تصوير غير مدمر
-
التعرف على الشعاع الضعيف بمساعدة التعلم العميق في مجهر الأشعة السينية في المجال المظلم Deep learning-assisted weak beam identification in Dark-field X-ray microscopy
2026 | المؤلف: Abderrahmane Benhadjira وآخرون | المجلة: npj Computational Materials | المجال: الإشعاع (Radiation)تناقش هذه القسم التحديات المرتبطة بالتوصيف الكمي للعيوب في المواد البلورية، والتي تؤثر بشكل كبير على خصائصها الميكانيكية. بينما توفر المجهر الإلكتروني الناقل (TEM) دقة على مستوى الذرات، فإن تطبيقه محدود على العينات الرقيقة، مما يقيد صلته بأداء المواد الكتلية. على النقيض من ذلك، يسمح المجهر بالأشعة السينية في الحقل المظلم (DFXM) بتصوير ثلاثي الأبعاد…
