الأبحاث المرتبطة بالكلمة المفتاحية: معدل العد المظلم
-
مقارنة شاملة بين الصمامات الضوئية المفردة من النوع الأمامي والخلفي في تقنية مستشعر الصورة CMOS القياسية 110 نانومتر Comprehensive Comparison of Front- and Back-Illuminated Single-Photon Avalanche Diodes in 110 nm Standard CMOS Image Sensor Technology
2026 | المؤلف: Doyoon Eom وآخرون | المجلة: Sensors | المجال: الأجهزة (Instrumentation)في هذه الدراسة، تم تصنيع ثنائيات الانهيار أحادية الفوتون (SPADs) المضيئة من الأمام (FI) والمضيئة من الخلف (BI) باستخدام عملية مستشعر الصورة CMOS بسمك 110 نانومتر، مما يسمح بمقارنة مباشرة لاستجاباتها الطيفية. تشير النتائج إلى أن اتجاه الإضاءة وتصميم نهاية الخط الخلفي (BEOL) يؤثران بشكل كبير على خصائص أداء SPADs. ومن الجدير بالذكر أن SPAD…
