في هذه الدراسة، تم تحليل حبيبات الزركون من العينة 255834 باستخدام مطيافية الكتلة للأيونات الثانوية (SIMS) على جهاز SHRIMP II في جامعة كورتين. التزمت الإجراءات التحليلية بالطرق الموضحة من قبل كومبستون وآخرين وتم تعديلها وفقًا لوilliams. تم استخدام شعاع أولي من أيونات O\(_2\) لتفريغ الأيونات الثانوية من أسطح الزركون، مع تيار أيون أولي صافٍ يتراوح…