الأبحاث المرتبطة بالكلمة المفتاحية: كشف العيوب الصناعية

DEENet: نموذج مزدوج الترميز معزز الحواف CNN–Transformer لاكتشاف عيوب سطح الصلب DEENet: an edge-enhanced CNN–Transformer dual-encoder model for steel surface defect detection

2026 | المؤلف: Weihua Pan وآخرون | المجلة: Scientific Reports | المجال: الهندسة الصناعية وهندسة التصنيع (Industrial and Manufacturing Engineering)

تقدم البحث DEENet، وهو نموذج مبتكر ذو فرعين يهدف إلى تعزيز الكشف عن عيوب سطح الفولاذ، وهو أمر حاسم لضمان أداء المنتج وطول عمره. يتناول النموذج التحديات الرئيسية مثل استخراج الميزات غير الكافي، وصعوبة الكشف عن العيوب الصغيرة، والحدود الضبابية التي تضر بمعلومات الحواف. يستخدم DEENet بنية مزدوجة التشفير تجمع بين الشبكات العصبية التلافيفية (CNN)…